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  • G670.3高溫環境XRD

    Guinier G670.3高溫環境XRD運用成像板技術，通過成熟的工藝技術，配合溫度調節配件，可對高至1772℃的粉末樣品進行X射線衍射測量。

    訪問次數：2870
    產品價格：面議
    廠商性質：代理商
    更新日期：2024-09-23
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